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克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng),關(guān)鍵團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測試領(lǐng)域15年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器,誤碼儀,協(xié)議分析儀,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀以附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅(jiān)持以專業(yè)的技術(shù)人員,配備高性能的測試設(shè)備,嚴(yán)格按照行業(yè)測試規(guī)范,提供給客戶專業(yè)服務(wù)。

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湖南PCI-E測試銷售 歡迎來電 深圳市力恩科技供應(yīng)

2025-10-17 01:04:12

PCIe背景概述PCIExpress(PeripheralComponentInterconnectExpress,PCle)總線是PCI總線的串行版本,廣泛應(yīng)用于顯卡、GPU、SSD卡、以太網(wǎng)卡、加速卡等與CPU的互聯(lián)。PCle的標(biāo)準(zhǔn)由PCI-SIG(PCISpecialInterestGroup)組織制定和維護(hù),目前其董事會主要成員有Intel、AMD、nVidia、DellEMC、Keysight、Synopsys、ARM、Qualcomm、VTM等公司,全球會員單位超過700家。PCI-SIG發(fā)布的規(guī)范主要有Base規(guī)范(適用于芯片和協(xié)議)、CEM規(guī)范(適用于板卡機(jī)械和電氣設(shè)計(jì))、測試規(guī)范(適用于測試驗(yàn)證方法)等,目前產(chǎn)業(yè)界正在逐漸商用第5代版本,同時(shí)第6代標(biāo)準(zhǔn)也在制定完善中。由于組織良好的運(yùn)作、的芯片支持、成熟的產(chǎn)業(yè)鏈,PCIe已經(jīng)成為服務(wù)器和個人計(jì)算機(jī)上成功的高速串行互聯(lián)和I/O擴(kuò)展總線。圖4.1是PCIe總線的典型應(yīng)用場景。PCI-E測試和協(xié)議調(diào)試;湖南PCI-E測試銷售

是用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行鏈路標(biāo)定的典型連接,具體的標(biāo)定步驟非常多,在PCIe4.0 Phy Test Specification文檔里有詳細(xì)描述,這里不做展開。

在硬件連接完成、測試碼型切換正確后,就可以對信號進(jìn)行捕獲和信號質(zhì)量分析。正式 的信號質(zhì)量分析之前還需要注意的是:為了把傳輸通道對信號的惡化以及均衡器對信號的 改善效果都考慮進(jìn)去,PCIe3.0及之后標(biāo)準(zhǔn)的測試中對其發(fā)送端眼圖、抖動等測試的參考點(diǎn) 從發(fā)送端轉(zhuǎn)移到了接收端。也就是說,測試中需要把傳輸通道對信號的惡化的影響以及均 衡器對信號的改善影響都考慮進(jìn)去。 福建PCI-E測試價(jià)格多少pcie4.0和pcie2.0區(qū)別?

SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供,會對信號進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù)、均衡以及眼圖、抖 動的分析。由于PCIe4.0的接收機(jī)支持多個不同幅度的CTLE均衡,而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整,所以SigTest軟件會遍歷所有的CTLE值并進(jìn)行DFE的優(yōu)化,并 根據(jù)眼高、眼寬的結(jié)果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號質(zhì)量測試 結(jié)果。SigTest需要用戶手動設(shè)置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進(jìn)行后分析,測試效率 比較低,而且對于不熟練的測試人員還可能由于設(shè)置疏忽造成測試結(jié)果的不一致,測試項(xiàng)目 也主要限于信號質(zhì)量與Preset相關(guān)的項(xiàng)目。為了提高PCIe測試的效率和測試項(xiàng)目覆蓋 率,有些示波器廠商提供了相應(yīng)的自動化測試軟件。

PCIe4.0的測試夾具和測試碼型要進(jìn)行PCIe的主板或者插卡信號的一致性測試(即信號電氣質(zhì)量測試),首先需要使用PCIe協(xié)會提供的夾具把被測信號引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售,主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對于發(fā)送端信號質(zhì)量測試來說,CBB用于插卡的測試,CLB用于主板的測試;但是在接收容限測試中,由于需要把誤碼儀輸出的信號通過夾具連接示波器做校準(zhǔn),所以無論是主板還是插卡的測試,CBB和CLB都需要用到。PCIE與負(fù)載只有時(shí)鐘線和數(shù)據(jù)線,搜索的時(shí)候沒有控制管理線,怎么找到的寄存器呢?

關(guān)于各測試項(xiàng)目的具體描述如下:·項(xiàng)目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號質(zhì)量,針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號中的脈沖寬度抖動,針對16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確,針對8Gbps和16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:驗(yàn)證插卡能根據(jù)鏈路命令設(shè)置成正確的初始Prest值,針對8Gbps和16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.5Add-inCardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:驗(yàn)證插卡對于鏈路協(xié)商的響應(yīng)時(shí)間,針對8Gbps和16Gbps速率。PCI-E 3.0數(shù)據(jù)速率的變化;湖南PCI-E測試銷售

PCI-e硬件科普:PCI-e到底是什么?湖南PCI-E測試銷售

在之前的PCIe規(guī)范中,都是假定PCIe芯片需要外部提供一個參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個低抖動的時(shí)鐘源給被測件提供參考時(shí)鐘,并且只需要對 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中,新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式,這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘,但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好,測試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出,采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出,則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式,需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。湖南PCI-E測試銷售

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