柔性印制電路板（FPC）因其輕薄和高柔韌性廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代電子產(chǎn)品中。針對(duì)FPC的檢測(cè)，鎖相熱成像技術(shù)表現(xiàn)出明顯優(yōu)勢(shì)。通過(guò)周期性電信號(hào)激勵(lì)，F(xiàn)PC內(nèi)部的熱響應(yīng)被高精度紅外探測(cè)器捕獲，結(jié)合鎖相解調(diào)單元和圖像處理軟件，能夠精確識(shí)別微小缺陷和熱異常。技術(shù)能夠有效抑制環(huán)境噪聲，提升檢測(cè)靈敏度，確保在不損傷FPC結(jié)構(gòu)的前提下完成無(wú)損檢測(cè)。實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)輸出功能支持快速反饋，滿足生產(chǎn)線上對(duì)檢測(cè)效率的需求。該技術(shù)適用于多層結(jié)構(gòu)和復(fù)雜線路的FPC，助力工程師優(yōu)化設(shè)計(jì)和制造過(guò)程，提升產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。蘇州致晟光電科技有限公司的鎖相熱成像系統(tǒng)為FPC檢測(cè)提供了先進(jìn)的技術(shù)保障，推動(dòng)柔性電子產(chǎn)業(yè)的持續(xù)發(fā)展。故障定位：常用于短路、漏電、接觸不良等失效分析。RTTLIT鎖相紅外熱成像系統(tǒng)成像

非制冷紅外相機(jī)主要參數(shù)：探測(cè)波段覆蓋8-14微米，探測(cè)器材質(zhì)多為氧化釩或非晶硅，無(wú)需依賴(lài)制冷設(shè)備，可在室溫環(huán)境下穩(wěn)定工作；主要優(yōu)勢(shì)：成本與壽命更具優(yōu)勢(shì)：整機(jī)采購(gòu)成本較低，且連續(xù)開(kāi)機(jī)使用壽命長(zhǎng)（超過(guò)5年），運(yùn)行過(guò)程無(wú)噪音，維護(hù)便捷性高；鎖相模式性能突出：雖常規(guī)高分辨率約為10微米，但切換至鎖相模式后，溫度分辨能力可突破至<1mK，能精確識(shí)別微弱熱輻射；半導(dǎo)體場(chǎng)景適配性強(qiáng)：在半導(dǎo)體工業(yè)中，可高效探測(cè)電路板線路、大功率元器件的漏電問(wèn)題，為失效分析提供清晰的熱信號(hào)依據(jù)。Thermal EMMI鎖相紅外熱成像系統(tǒng)紅外探測(cè)器同步采集樣品表面的熱輻射；

電子器件的**性和性能是當(dāng)前新能源領(lǐng)域關(guān)注的重點(diǎn)之一，應(yīng)用鎖相熱成像技術(shù)（LIT）進(jìn)行器件級(jí)熱分析成為重要手段。 LIT技術(shù)通過(guò)對(duì)電子器件或電源芯片施加特定頻率的電信號(hào)激勵(lì)，捕捉其熱響應(yīng)信號(hào)，能夠準(zhǔn)確識(shí)別器件內(nèi)部的微小熱異常和潛在缺陷。該技術(shù)具備極高的溫度靈敏度和功率檢測(cè)能力，能夠在不損傷器件結(jié)構(gòu)的前提下，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)器件內(nèi)部的熱變化過(guò)程。通過(guò)鎖相解調(diào)單元和圖像處理軟件，提取與激勵(lì)頻率相關(guān)的熱信號(hào)，有效剔除環(huán)境噪聲，確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。器件在工作過(guò)程中可能產(chǎn)生的局部發(fā)熱、短路或材料異常等問(wèn)題，都能借助LIT技術(shù)得到清晰的熱成像表現(xiàn)，輔助研發(fā)和質(zhì)量控制。該方法不僅提升了缺陷檢測(cè)的靈敏度，還為電路熱管理和可靠性設(shè)計(jì)提供了科學(xué)依據(jù)。鎖相熱成像技術(shù)的無(wú)損檢測(cè)優(yōu)勢(shì)，使得其在電子器件生產(chǎn)和使用全生命周期中發(fā)揮著不可替代的作用。蘇州致晟光電科技有限公司專(zhuān)注于提供高級(jí)電子失效分析設(shè)備，助力電子系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)更高的**標(biāo)準(zhǔn)和性能優(yōu)化。

實(shí)時(shí)鎖相LIT系統(tǒng)以其高靈敏度與實(shí)時(shí)同步輸出能力，成為電子失效分析中高效檢測(cè)的典型方案。系統(tǒng)通過(guò)周期性激勵(lì)源激發(fā)目標(biāo)熱響應(yīng)，紅外探測(cè)器同步捕獲信號(hào)，鎖相解調(diào)單元精確提取有效熱成分，排除環(huán)境干擾。圖像處理軟件實(shí)時(shí)生成缺陷圖像，便于用戶在實(shí)驗(yàn)或生產(chǎn)過(guò)程中即時(shí)判斷問(wèn)題點(diǎn)。該技術(shù)溫度靈敏度極高，適用于晶圓廠、封裝廠等對(duì)檢測(cè)速度與準(zhǔn)確性有嚴(yán)苛要求的場(chǎng)景，支持多樣品、多批次的高通量篩查。蘇州致晟光電科技有限公司持續(xù)優(yōu)化系統(tǒng)架構(gòu)與算法，推動(dòng)實(shí)時(shí)鎖相技術(shù)在產(chǎn)業(yè)端的深入應(yīng)用。致晟 Thermal 用 InGaAs 探測(cè)器，900-1700nm 波段量子效率 70%+，捕微弱熱輻射。

在電子器件中，早期識(shí)別熱異常對(duì)系統(tǒng)**具有關(guān)鍵意義。 鎖相熱成像技術(shù)（LIT）通過(guò)施加特定頻率電激勵(lì)，激發(fā)器件內(nèi)部產(chǎn)生同步熱信號(hào)，由高靈敏度紅外探測(cè)器捕捉其微弱輻射。鎖相解調(diào)與圖像處理環(huán)節(jié)有效濾除噪聲，生成清晰熱分布圖，揭示局部發(fā)熱、材料老化等隱患。該技術(shù)具備無(wú)損與高靈敏度特性，適用于消費(fèi)電子與汽車(chē)電子中電源管理芯片的研發(fā)及品控環(huán)節(jié)，為客戶優(yōu)化電路設(shè)計(jì)、提升系統(tǒng)可靠性提供數(shù)據(jù)支持。蘇州致晟光電科技有限公司致力于提供完整的失效分析方案，覆蓋從實(shí)驗(yàn)室研究到量產(chǎn)檢測(cè)的全流程需求。致晟光電技術(shù)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化算法，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)鎖相熱成像。失效分析鎖相紅外熱成像系統(tǒng)型號(hào)

高靈敏度：可檢測(cè)微瓦級(jí)別熱功率變化；RTTLIT鎖相紅外熱成像系統(tǒng)成像

鎖相紅外熱成像系統(tǒng)是一種高精度熱分析工具，通過(guò)檢測(cè)被測(cè)對(duì)象在紅外波段的微弱熱輻射，并利用鎖相放大技術(shù)提取信號(hào)，實(shí)現(xiàn)高靈敏度和高分辨率的熱成像。與傳統(tǒng)紅外熱成像相比，鎖相技術(shù)能夠抑制環(huán)境噪聲和干擾信號(hào)，使微小溫度變化也能夠被可靠捕捉，從而在半導(dǎo)體器件、微電子系統(tǒng)和材料研究中發(fā)揮重要作用。該系統(tǒng)可以非接觸式測(cè)量芯片或器件的局部溫度分布，精確定位熱點(diǎn)和熱異常區(qū)域，幫助工程師識(shí)別電路設(shè)計(jì)缺陷、材料劣化或工藝問(wèn)題。RTTLIT鎖相紅外熱成像系統(tǒng)成像