ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過在晶圓測(cè)試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過程控制的智能質(zhì)量防線。 Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車規(guī)級(jí)場(chǎng)景，保障晶圓表面完整性。上海Mapping Inkless服務(wù)

在半導(dǎo)體制造中，由于Fab制程的物理與化學(xué)特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個(gè)關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場(chǎng)、溫度場(chǎng)及壓力場(chǎng)分布不均，導(dǎo)致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風(fēng)險(xiǎn)急劇升高。因此，在晶圓測(cè)試（CP）的制造流程中，對(duì)電性測(cè)試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項(xiàng)提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù)，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續(xù)對(duì)這些潛在不良品進(jìn)行不必要的封裝和測(cè)試，從而直接節(jié)約成本，并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。上海PAT服務(wù)Mapping Over Ink處理嚴(yán)格遵循AECQ標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)判定，確保車規(guī)級(jí)芯片可靠性。

面對(duì)stdf、log、jdf等格式混雜的測(cè)試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí)，還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性，對(duì)缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測(cè)試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動(dòng)過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制，使工程師無需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動(dòng)直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動(dòng)采集并解析來自主流測(cè)試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓批次、區(qū)域乃至單點(diǎn)良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測(cè)試數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢(shì)曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時(shí)，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。DPAT模塊動(dòng)態(tài)調(diào)整閾值以適應(yīng)批次差異，分場(chǎng)景優(yōu)化測(cè)試限設(shè)定。

在評(píng)估良率管理系統(tǒng)投入時(shí)，企業(yè)關(guān)注的不僅是初始采購(gòu)成本，更是長(zhǎng)期使用中的效率回報(bào)與服務(wù)保障。YMS系統(tǒng)提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權(quán)、必要定制、技術(shù)培訓(xùn)及持續(xù)運(yùn)維支持，確保部署后穩(wěn)定運(yùn)行與功能演進(jìn)。系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設(shè)備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數(shù)據(jù)，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報(bào)價(jià)結(jié)構(gòu)避免隱性收費(fèi)，使預(yù)算規(guī)劃更可控。同時(shí)，系統(tǒng)內(nèi)置的SYL/SBL自動(dòng)計(jì)算與卡控、多維度良率分析及靈活報(bào)表導(dǎo)出功能，直接支撐質(zhì)量決策效率提升。這種“一次投入、持續(xù)賦能”的模式，明顯優(yōu)化了總體擁有成本。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，始終以合理定價(jià)與高價(jià)值交付贏得客戶信賴。Mapping Over Ink處理因數(shù)據(jù)分析自動(dòng)化大幅提升效率，縮短封測(cè)周期時(shí)間。上海PAT服務(wù)

Mapping Over Ink處理系統(tǒng)提供售前咨詢與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，保障客戶實(shí)施體驗(yàn)。上海Mapping Inkless服務(wù)

芯片制造對(duì)良率控制的顆粒度要求極高，任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)接入各類Tester平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測(cè)試數(shù)據(jù)，完成高精度的數(shù)據(jù)解析與整合，確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實(shí)可靠。系統(tǒng)依托標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，支持按時(shí)間、區(qū)域、批次等多維度進(jìn)行缺陷聚類與根因追溯，幫助研發(fā)與制造團(tuán)隊(duì)快速響應(yīng)異常。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)的變化，可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設(shè)計(jì)兼容性問題。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控，為芯片級(jí)質(zhì)量提供雙重保障。報(bào)表工具支持按模板生成周期報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，提升信息流轉(zhuǎn)效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注于半導(dǎo)體系統(tǒng)軟件研發(fā)，其YMS系統(tǒng)正成為國(guó)產(chǎn)芯片企業(yè)提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵助力。上海Mapping Inkless服務(wù)

上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取，不斷制造創(chuàng)新的市場(chǎng)高度，多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)**，成績(jī)讓我們喜悅，但不會(huì)讓我們止步，殘酷的市場(chǎng)磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營(yíng)養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新，勇于進(jìn)取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績(jī)而沾沾自喜，相反的是面對(duì)競(jìng)爭(zhēng)越來越激烈的市場(chǎng)氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難，激流勇進(jìn)，以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！