面對國產(chǎn)手機(jī)芯片動輒數(shù)千萬乃至上億顆的年出貨量，傳統(tǒng)“單顆或小批量測試”模式早已無法滿足產(chǎn)能與成本需求。國磊GT600憑借512站點(diǎn)并行測試能力，開創(chuàng)“集體考試”新模式——512顆芯片同步上電、同步輸入測試向量、同步采集響應(yīng)、同步判定Pass/Fail，測試效率呈指數(shù)級提升。這不僅將單位時間產(chǎn)出提高數(shù)十倍，更大幅縮短新品從試產(chǎn)到大規(guī)模鋪貨的周期，**占市場先機(jī)。更重要的是，測試成本（CostofTest）是芯片總成本的重要組成部分。據(jù)半導(dǎo)體行業(yè)經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)，同測數(shù)（ParallelTestSites）每翻一倍，單顆芯片測試成本可下降30%~40%。國磊GT600的512站點(diǎn)能力，相較傳統(tǒng)32或64站點(diǎn)設(shè)備，成本降幅可達(dá)70%以上，為國產(chǎn)手機(jī)SoC在激烈市場競爭中贏得價格優(yōu)勢。國磊GT600以“高速（400MHz）+高密度（512通道）+高并行（512Sites）”三位一體架構(gòu)，構(gòu)建起支撐國產(chǎn)**芯片量產(chǎn)的“超級測試流水線”，可以讓中國芯不僅“造得出”，更能“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。高精度電壓輸出與測量，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。杭州國磊絕緣電阻測試系統(tǒng)批發(fā)

每通道PPMU：芯片健康的“精密聽診器” 。杭州國磊GT600的每通道集成PPMU（參數(shù)測量單元），是其高精度測試的**。PPMU可在FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式下，精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），相當(dāng)于檢測每秒流過數(shù)億個電子的微小電流。在手機(jī)芯片測試中，這能識別因工藝缺陷導(dǎo)致的“待機(jī)耗電”問題，確保續(xù)航達(dá)標(biāo)。在FIMV（強(qiáng)制電流測電壓）模式下，可驗(yàn)證電源調(diào)整率，防止芯片在高負(fù)載下電壓跌落導(dǎo)致死機(jī)。PPMU還支持快速哨兵測試（Quick Sentinel），在毫秒內(nèi)完成所有引腳的開路/短路檢測，大幅提升初篩效率。對于AI芯片，PPMU可逐核測量功耗，篩選出“能效比較好”**。這一“每引腳級”測量能力，讓杭州國磊GT600成為芯片可靠性的“***守門人”。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)市價實(shí)時電流監(jiān)測與快速數(shù)據(jù)采集，完整掌握電化學(xué)反應(yīng)過程。

適配多元化國產(chǎn)芯片架構(gòu) 中國芯片產(chǎn)業(yè)呈現(xiàn)百花齊放態(tài)勢：RISC-V CPU、存算一體AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架構(gòu)層出不窮。這些芯片往往具有非標(biāo)I/O、特殊電源域或混合信號需求。國磊（Guolei）GT600的16個通用插槽、多種VI浮動電源板卡（如-2.5V~7V）、每引腳PPMU及可選配的高精度模擬板卡，使其能靈活適配各類異構(gòu)芯片的測試需求，避免因測試平臺僵化而制約創(chuàng)新芯片的發(fā)展，從而維護(hù)技術(shù)路線的多樣性與供應(yīng)鏈的抗風(fēng)險能力。保障關(guān)鍵領(lǐng)域芯片供應(yīng)** 在**、航空航天、智能電網(wǎng)、軌道交通、新能源汽車等關(guān)乎國計(jì)民生的關(guān)鍵領(lǐng)域，芯片供應(yīng)鏈**直接關(guān)系**。國磊（Guolei）GT600已應(yīng)用于**AD/DA、顯示驅(qū)動、MCU等芯片測試，未來可進(jìn)一步拓展至**加密芯片、高可靠通信芯片等領(lǐng)域。通過部署國產(chǎn)測試設(shè)備，這些敏感芯片的測試數(shù)據(jù)、良率信息、失效模式等**知識產(chǎn)權(quán)得以保留在境內(nèi)，杜絕信息泄露風(fēng)險。

集成PPMU與動態(tài)電流監(jiān)測——賦能“每瓦特算力”優(yōu)化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數(shù)據(jù)中心“雙碳”目標(biāo)下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態(tài)電流與A級動態(tài)電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產(chǎn)AI芯片。512 Sites并行測試架構(gòu)——降低量產(chǎn)成本，**占市場先機(jī)。AI芯片年出貨量動輒百萬級，測試成本直接影響產(chǎn)品競爭力。512站點(diǎn)并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數(shù)級提升。為國產(chǎn)AI芯片大規(guī)模量產(chǎn)提供“超級測試流水線”，實(shí)現(xiàn)“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。開放軟件生態(tài)（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創(chuàng)新迭代 背景：AI架構(gòu)快速演進(jìn)（如存算一體、類腦計(jì)算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環(huán)境支持自定義測試邏輯，高校與企業(yè)可快速開發(fā)新型測試方案。不僅是量產(chǎn)工具，更是科研創(chuàng)新的“開放實(shí)驗(yàn)臺”，推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。國磊GT600SoC測試機(jī)DPS板卡支持動態(tài)Force輸出，可用于HBM電源上電時序（PowerSequencing）驗(yàn)證。

    對國產(chǎn)車而言，其自研車規(guī)級MCU（微控制器）與功率半導(dǎo)體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業(yè)**嚴(yán)苛的可靠性認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強(qiáng)振動、長期高負(fù)載等惡劣環(huán)境下仍能穩(wěn)定運(yùn)行十年以上。國磊GT600SoC測試機(jī)正是這一“車規(guī)級體檢”的關(guān)鍵設(shè)備。其每通道PPMU（精密參數(shù)測量單元）可精細(xì)測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別芯片內(nèi)部微小缺陷或工藝波動導(dǎo)致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片；同時支持引腳級開路/短路測試，確保封裝無瑕疵。更關(guān)鍵的是，國磊GT600可選配浮動SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗(yàn)證MCU在電壓波動、負(fù)載突變等真實(shí)工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。此外，國磊GT600支持高溫老化測試（Burn-in）接口，可配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在汽車“缺芯”與“**至上”的雙重背景下，國磊GT600可以為國產(chǎn)車構(gòu)建從研發(fā)到量產(chǎn)的高可靠測試閉環(huán)，守護(hù)每一程出行**。 現(xiàn)代低功耗SoC普遍采用動態(tài)電壓頻率調(diào)節(jié)以平衡性能與能耗。國磊GT600可通過使用SMU動態(tài)切換供電電壓。杭州國磊GEN3測試系統(tǒng)市場價格

**適用于PCB、電子組件絕緣性能評估與品質(zhì)管控。杭州國磊絕緣電阻測試系統(tǒng)批發(fā)

智能汽車芯片的“**衛(wèi)士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片，車規(guī)級MCU、功率半導(dǎo)體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴(yán)苛認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU，可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片。其浮動SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗(yàn)證電源管理單元在電壓波動、負(fù)載突變下的穩(wěn)定性，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測試（Burn-in）接口，配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“**至上”的汽車電子領(lǐng)域，杭州國磊GT600以“微電流級檢測+真實(shí)工況模擬”，為每一程出行筑起**防線。杭州國磊絕緣電阻測試系統(tǒng)批發(fā)