國磊（Guolei）的SoC測試機(jī)（如GT600）雖然主要面向高性能系統(tǒng)級芯片（SoC）的數(shù)字、模擬及混合信號測試，但其技術(shù)能力與MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）領(lǐng)域存在多維度、深層次的聯(lián)系。盡管MEMS器件本身結(jié)構(gòu)特殊（包含機(jī)械微結(jié)構(gòu)、傳感器/執(zhí)行器等），但在實際應(yīng)用中，絕大多數(shù)MEMS芯片都需與**ASIC或SoC集成封裝（如慣性測量單元IMU、麥克風(fēng)、壓力傳感器等），而這些配套電路的測試正是國磊SoC測試機(jī)的**應(yīng)用場景。MEMS-ASIC協(xié)同封裝的測試需求，現(xiàn)代MEMS產(chǎn)品極少以“裸傳感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的異質(zhì)集成方案。例如，加速度計/陀螺儀中的MEMS結(jié)構(gòu)負(fù)責(zé)感知物理量，而配套的ASIC則完成信號調(diào)理、模數(shù)轉(zhuǎn)換、溫度補(bǔ)償和數(shù)字接口輸出。這類ASIC往往具備高精度模擬前端（如低噪聲放大器、Σ-Δ ADC）、可編程增益控制和I?C/SPI數(shù)字接口，屬于典型的混合信號SoC。 國磊GT600配備24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引腳參數(shù)測量單元及TMU時間測量功能，可***驗證此類MEMS配套ASIC的線性度、噪聲性能、時序響應(yīng)和電源抑制比，確保傳感器整體精度與可靠性。現(xiàn)代低功耗SoC普遍采用動態(tài)電壓頻率調(diào)節(jié)以平衡性能與能耗。國磊GT600可通過使用SMU動態(tài)切換供電電壓。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)精選廠家

    車規(guī)級MEMS傳感器包括用于ESP車身穩(wěn)定系統(tǒng)的高g加速度計、發(fā)動機(jī)歧管壓力傳感器等，需滿足AEC-Q100認(rèn)證。杭州國磊（Guolei）支持點：支持-40℃~125℃環(huán)境應(yīng)力測試（通過GPIB/TTL對接溫箱）；高可靠性測試流程（如HAST、HTOL前后的參數(shù)對比）；數(shù)據(jù)自動記錄為STDF格式，便于車廠追溯與良率分析；每引腳PPMU檢測早期失效（如漏電流異常）。生物**MEMS如植入式壓力傳感器、微流控芯片控制器，對低功耗與長期穩(wěn)定性要求極高。杭州國磊（Guolei）支持點：nA級靜態(tài)電流測量（PPMU）；**噪聲激勵與采集，避免干擾生物信號；支持長期老化測試中的周期性參數(shù)回讀。杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不直接測試MEMS的機(jī)械或物理特性（如諧振頻率、Q值、位移等），但***覆蓋MEMS產(chǎn)品中不可或缺的電子控制與信號處理部分——即配套ASIC/SoC的功能、性能與可靠性驗證。在消費(fèi)電子、汽車電子、工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)和新興智能硬件領(lǐng)域，杭州國磊（Guolei）GT600已成為國產(chǎn)MEMS廠商實現(xiàn)高精度、高效率、低成本、自主可控測試的重要平臺，有力支撐中國MEMS產(chǎn)業(yè)鏈從“制造”向“智造”升級。 杭州國磊SIR測試系統(tǒng)精選廠家關(guān)注電化學(xué)反應(yīng)對電路組件的影響，GM8800助您一臂之力！

集成PPMU與動態(tài)電流監(jiān)測——賦能“每瓦特算力”優(yōu)化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數(shù)據(jù)中心“雙碳”目標(biāo)下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態(tài)電流與A級動態(tài)電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設(shè)計團(tuán)隊優(yōu)化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產(chǎn)AI芯片。512 Sites并行測試架構(gòu)——降低量產(chǎn)成本，**占市場先機(jī)。AI芯片年出貨量動輒百萬級，測試成本直接影響產(chǎn)品競爭力。512站點并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數(shù)級提升。為國產(chǎn)AI芯片大規(guī)模量產(chǎn)提供“超級測試流水線”，實現(xiàn)“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。開放軟件生態(tài)（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創(chuàng)新迭代 背景：AI架構(gòu)快速演進(jìn)（如存算一體、類腦計算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環(huán)境支持自定義測試邏輯，高校與企業(yè)可快速開發(fā)新型測試方案。不僅是量產(chǎn)工具，更是科研創(chuàng)新的“開放實驗臺”，推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。

傳統(tǒng)測試設(shè)備面向通用CPU/GPU設(shè)計，難以應(yīng)對AI芯片特有的稀疏計算、張量**、片上互聯(lián)等新架構(gòu)。GT600針對此類需求優(yōu)化了測試向量調(diào)度機(jī)制與并行激勵生成能力，支持對非規(guī)則數(shù)據(jù)流、動態(tài)稀疏***、混合精度運(yùn)算的專項驗證。其靈活的時鐘域管理還可模擬多頻異構(gòu)系統(tǒng)的工作狀態(tài)。這種“為AI而生”的設(shè)計理念，使GT600不僅兼容現(xiàn)有芯片，更能前瞻性支持下一代AI硬件創(chuàng)新。在杭州打造“中國算力之城”的進(jìn)程中，GT600正推動測試從“功能檢查”向“場景仿真”演進(jìn)，**國產(chǎn)測試技術(shù)范式升級。強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能，助您快速定位問題。

    兼容探針臺與分選機(jī)，打通晶圓到封裝測試鏈路。智能駕駛芯片需經(jīng)歷晶圓測試（CP）與封裝測試（FT）雙重驗證。杭州國磊GT600支持GPIB、TTL等標(biāo)準(zhǔn)接口，可無縫對接主流探針臺與分選機(jī)設(shè)備，實現(xiàn)從裸片到成品的全流程自動化測試。尤其在高溫、低溫等車規(guī)級應(yīng)力測試條件下，杭州國磊GT600的小型化、低功耗設(shè)計有助于在溫控腔體內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)行，確保測試數(shù)據(jù)的一致性與可重復(fù)性，為芯片通過AEC-Q100認(rèn)證提供可靠數(shù)據(jù)支撐。國產(chǎn)**測試設(shè)備助力智能駕駛產(chǎn)業(yè)鏈自主可控在全球半導(dǎo)體供應(yīng)鏈緊張與技術(shù)封鎖背景下，國產(chǎn)高性能測試設(shè)備的戰(zhàn)略意義凸顯。杭州國磊GT600作為國內(nèi)少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC測試機(jī)，已獲得行業(yè)專業(yè)客戶認(rèn)可，標(biāo)志著我國在**ATE領(lǐng)域取得突破。對于智能駕駛這一關(guān)乎**交通**與科技**的關(guān)鍵賽道，采用國磊GT600不僅可降低對國外測試設(shè)備的依賴，更能通過本地化技術(shù)支持快速響應(yīng)芯片廠商的定制需求，加速中國智能駕駛芯片生態(tài)的自主化與全球化進(jìn)程。 國磊GT600每通道集成PPMU，支持nA級電流分辨率，可精確測量SoC在睡眠、深度睡眠（或關(guān)斷模式下靜態(tài)漏電流。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)精選廠家

國磊GT600利用高精度邊沿（100ps）和TMU測量時序窗口進(jìn)行時序與動態(tài)性能測試，建立/保持時間測試。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)精選廠家

在“雙碳”目標(biāo)與數(shù)據(jù)中心PUE限制日益嚴(yán)格的背景下，AI芯片的能效比（TOPS/W）已成為核心競爭力。GT600集成高精度PPMU（每引腳參數(shù)測量單元），支持從nA級靜態(tài)漏電到數(shù)安培動態(tài)電流的全范圍測量，并具備微秒級瞬態(tài)響應(yīng)能力，可精細(xì)捕捉電壓塌陷、浪涌電流等關(guān)鍵電源事件。這一能力使芯片設(shè)計團(tuán)隊能在測試階段繪制詳細(xì)的功耗-性能曲線，優(yōu)化電源門控策略、時鐘門控邏輯及低功耗模式切換機(jī)制。對追求***能效的國產(chǎn)AI加速器而言，GT600不僅是驗證工具，更是“每瓦特算力”的精算師，助力中國AI芯片在全球綠色計算浪潮中占據(jù)先機(jī)。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)精選廠家