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蘇州致晟光電科技有限公司 熱紅外顯微鏡|微光顯微鏡||
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蘇州致晟光電科技有限公司專(zhuān)注于高靈敏度紅外檢測(cè)與微弱光電信號(hào)分析技術(shù)的研發(fā),依托南京理工大學(xué)電子工程與光電技術(shù)學(xué)院的科研優(yōu)勢(shì),致力于前沿技術(shù)的自主創(chuàng)新。 公司產(chǎn)品涵蓋長(zhǎng)波非制冷鎖相紅外顯微鏡、中波制冷鎖相紅外顯微鏡、近紅外微光顯微鏡等,該設(shè)備廣泛的應(yīng)用于電子集成電路和半導(dǎo)體器件,如先進(jìn)封裝、 Wafer、IGBT 、IC、MEMS、 PCB、PCBA、FPC、LED、 電容、電感等失效分析及缺陷定位,為行業(yè)提供前沿的解決方案。

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IC鎖相紅外熱成像系統(tǒng)方案 誠(chéng)信互利 蘇州致晟光電科技供應(yīng)

2025-11-02 01:20:42

通過(guò)自主研發(fā)的實(shí)時(shí)瞬態(tài)鎖相熱分析系統(tǒng)(RTTLIT)通常由周期性激勵(lì)源、高靈敏度紅外探測(cè)器、鎖相解調(diào)單元及圖像處理軟件組成,其中鎖相解調(diào)單元通過(guò)同步采集激勵(lì)信號(hào)與紅外探測(cè)信號(hào),計(jì)算兩者的相位差與幅值,從而將隱藏在噪聲中的微弱熱信號(hào)分離出來(lái)。這種技術(shù)特性使其突破了傳統(tǒng)紅外檢測(cè)在低對(duì)比度、強(qiáng)噪聲場(chǎng)景下的局限性,尤其適用于需要對(duì)微小熱異常進(jìn)行定量分析的場(chǎng)景,為工業(yè)檢測(cè)、科研探索等領(lǐng)域提供了更高精度的熱成像解決方案。相比傳統(tǒng)紅外,鎖相技術(shù)能實(shí)現(xiàn)更深層次的熱缺陷探測(cè)。IC鎖相紅外熱成像系統(tǒng)方案

鎖相紅外熱成像系統(tǒng)的探測(cè)器是保障信號(hào)采集精度的重要部件,目前主流采用焦平面陣列(FPA)結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)具備高響應(yīng)率、高空間分辨率的優(yōu)勢(shì),能精細(xì)捕捉鎖相處理后的紅外光子信號(hào)。焦平面陣列由大量微型紅外探測(cè)單元組成,每個(gè)單元可將紅外光子轉(zhuǎn)化為電信號(hào),且單元間距極小,確保成像的空間連續(xù)性。為適配鎖相技術(shù),探測(cè)器還需具備快速響應(yīng)能力,通常響應(yīng)時(shí)間控制在微秒級(jí),以實(shí)時(shí)匹配參考信號(hào)的頻率變化。在航空航天領(lǐng)域,搭載焦平面陣列探測(cè)器的鎖相紅外熱成像系統(tǒng),可在高速飛行狀態(tài)下,精細(xì)捕捉航天器表面的紅外輻射信號(hào),即使面對(duì)太空復(fù)雜的輻射環(huán)境,也能通過(guò)高響應(yīng)率探測(cè)器提取微弱目標(biāo)信號(hào),為航天器故障檢測(cè)提供可靠數(shù)據(jù)??蒲杏面i相紅外熱成像系統(tǒng)售價(jià)鎖相紅外系統(tǒng)通過(guò)熱信號(hào)相位解調(diào)提升缺陷對(duì)比度。

鎖相紅外熱成像系統(tǒng)的工作原理基于鎖相放大技術(shù),這一技術(shù)的本質(zhì)是通過(guò)提取與參考信號(hào)同頻同相的紅外信號(hào),濾除無(wú)關(guān)干擾,實(shí)現(xiàn)對(duì)微弱目標(biāo)信號(hào)的精細(xì)檢測(cè)。系統(tǒng)工作時(shí),首先由信號(hào)發(fā)生器生成固定頻率、相位的參考信號(hào),該信號(hào)與目標(biāo)紅外輻射的調(diào)制頻率保持一致。隨后,紅外探測(cè)器采集目標(biāo)輻射信號(hào),這些信號(hào)中包含目標(biāo)信號(hào)與環(huán)境干擾信號(hào)。系統(tǒng)將采集到的混合信號(hào)與參考信號(hào)輸入鎖相放大器,鎖相放大器通過(guò)相位敏感檢測(cè)器,保留與參考信號(hào)頻率、相位相同的目標(biāo)信號(hào),將其他頻率、相位的干擾信號(hào)抑制。這一過(guò)程如同 “信號(hào)篩選器”,能從復(fù)雜的干擾環(huán)境中提取出微弱的目標(biāo)信號(hào)。例如在環(huán)境噪聲較大的工業(yè)車(chē)間,傳統(tǒng)紅外成像系統(tǒng)受電機(jī)振動(dòng)、氣流擾動(dòng)等干擾,難以捕捉設(shè)備微小過(guò)熱信號(hào),而鎖相紅外熱成像系統(tǒng)通過(guò)鎖相放大原理,可將干擾信號(hào)抑制 1000 倍以上,精細(xì)提取目標(biāo)信號(hào)。

鎖相紅外熱成像系統(tǒng)的工作原理圍繞 “周期性激勵(lì)與同頻信號(hào)提取” 構(gòu)建,是實(shí)現(xiàn)弱熱信號(hào)精細(xì)檢測(cè)的關(guān)鍵。其重要邏輯在于,通過(guò)信號(hào)發(fā)生器向被測(cè)目標(biāo)施加周期性激勵(lì)(如光、電、熱激勵(lì)),使目標(biāo)內(nèi)部存在缺陷或異常的區(qū)域,因熱傳導(dǎo)特性差異,產(chǎn)生與激勵(lì)頻率同步的周期性熱響應(yīng)。紅外探測(cè)器實(shí)時(shí)采集目標(biāo)的紅外熱輻射信號(hào),此時(shí)采集到的信號(hào)中混雜著環(huán)境溫度波動(dòng)、電磁干擾等大量噪聲,信噪比極低。鎖相放大器通過(guò)引入與激勵(lì)信號(hào)同頻同相的參考信號(hào),對(duì)采集到的混合信號(hào)進(jìn)行相干檢測(cè),保留與參考信號(hào)頻率一致的熱信號(hào)成分,從而濾除絕大部分無(wú)關(guān)噪聲。這一過(guò)程如同為系統(tǒng) “裝上精細(xì)的信號(hào)過(guò)濾器”,即使目標(biāo)熱信號(hào)微弱到為環(huán)境噪聲的千分之一,也能被有效提取,終實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)熱分布的精細(xì)測(cè)量與分析。鎖相解調(diào)單元做互相關(guān)運(yùn)算,濾環(huán)境噪聲。

第二項(xiàng)局限性是 “檢測(cè)速度相對(duì)較慢”:為了確保檢測(cè)精度,鎖相紅外技術(shù)需要采集多個(gè)周期的溫度圖像進(jìn)行積分分析 —— 只有通過(guò)多周期數(shù)據(jù)的積累與處理,才能有效提取微弱的缺陷信號(hào),濾除噪聲干擾,這導(dǎo)致它的檢測(cè)效率遠(yuǎn)低于傳統(tǒng)靜態(tài)熱成像技術(shù)。例如在大規(guī)模 PCB 電路板批量檢測(cè)中,傳統(tǒng)熱成像可快速完成單塊板的測(cè)溫,而鎖相紅外技術(shù)則需要數(shù)分鐘甚至更長(zhǎng)時(shí)間才能完成一次精細(xì)檢測(cè),難以滿足高速量產(chǎn)線的效率需求。不過(guò),這些局限性并未削弱鎖相紅外技術(shù)的**價(jià)值:在對(duì)檢測(cè)精度、缺陷識(shí)別深度有高要求的場(chǎng)景中,它的優(yōu)勢(shì)遠(yuǎn)大于局限。隨著半導(dǎo)體行業(yè)向高密度、高功率方向發(fā)展,鎖相紅外將成為保障產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵支撐,市場(chǎng)需求持續(xù)增長(zhǎng)。非破壞性分析鎖相紅外熱成像系統(tǒng)批量定制

鎖相紅外(Lock-in Thermography, LIT) 是一種基于調(diào)制信號(hào)和相敏檢測(cè)原理的紅外成像技術(shù)。IC鎖相紅外熱成像系統(tǒng)方案

在科研領(lǐng)域,鎖相紅外技術(shù)(Lock-in Thermography,簡(jiǎn)稱(chēng)LIT)也為實(shí)驗(yàn)研究提供了精細(xì)的熱分析手段:在材料熱物性測(cè)量中,通過(guò)周期性激勵(lì)與相位分析,可精確獲取材料的熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散系數(shù)等關(guān)鍵參數(shù),助力新型功能材料的研發(fā)與性能優(yōu)化;在半導(dǎo)體失效分析中,致晟光電自主研發(fā)的純國(guó)產(chǎn)鎖相紅外熱成像技術(shù)能捕捉芯片內(nèi)微米級(jí)的漏電流、導(dǎo)線斷裂等微弱熱信號(hào),幫助科研人員追溯失效根源,推動(dòng)中國(guó)半導(dǎo)體器件的性能升級(jí)與可靠性和提升。IC鎖相紅外熱成像系統(tǒng)方案

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